cp值测试（cp值）

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1、电子生产线负责单位给出的方法：根据给定的工艺极限值，可以采用下式计算Cp值：Cp=（上极限-下极限）/6s工艺目标为0时，上下极限值相同，则上式改写为：Cp=上极限/3sCpk确定了工艺平均值和最接近规定极限的值之间有3组标准偏差。

2、正态或非正态分布中利用Cpk值，这是很有价值的，因为它可以确定由于贴装设备缺乏精确度和稳定性造成的不在规定极限范围内的ppm的值。

3、Cpk=平均值和最接近规定极限的值之间的距离/3s其中s=样本的标准偏差。

4、定义：工艺范围=数组的标准偏差=SD工艺平均值=数组的平均值=Avg工艺目标=Target规定上限=USL规定下限=LSL如果中心工艺的目标=0，则USL=LSL中心工艺规定极限的定义=SL=USL=-1×LSL规定宽度的定义是SW=USL-LSL，则对中心工艺来说：SW=SL-(-1×SL)=2×SL通用的工艺能力指数Cp和Cpk为：Cp=SW/(6×SD)Cpk=Cp×(1-K)其中K=(Target-Avg)/(SW/2)对于中心的工艺Cp=2×SL/(6×SD)=SL/3×SDCpk=((SL/3SD)×(1-K)其中K=(0-Avg)/(2×SL/2)=-Avg/SL替换Cpk表达式中的Cp和K得到：Cpk=(SL/(3×SD))×(1--Avg/SL)=SL/(3×SD)+SL*Avg/(3×SD×SL)=SL/(3×SD)+Avg/(3×SD) CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写，汉语译作工序能力指数，也有译作工艺能力指数过程能力指数。

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